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基于電荷泵鎖相環(huán)技術(shù)的電路鎖定測(cè)試的基本原理和設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)

鉅大LARGE  |  點(diǎn)擊量:444次  |  2023年10月07日  

在各種鎖相環(huán)結(jié)構(gòu)中,電荷泵鎖相環(huán)因其穩(wěn)定性高,捕獲范圍大,便于集成等特點(diǎn)而別廣泛使用于無(wú)線通信、頻率綜合器和時(shí)鐘恢復(fù)電路中。隨著芯片設(shè)計(jì)集成化和電路設(shè)計(jì)的簡(jiǎn)潔化,鎖相環(huán)芯片通常都集成了環(huán)路鎖定測(cè)試電路。


電荷泵鎖相環(huán)的鎖定測(cè)試電路設(shè)計(jì),包括模擬鎖定測(cè)試和數(shù)字鎖定測(cè)試兩種辦法。其中,模擬測(cè)試電路采用經(jīng)鑒頻鑒相器pFD輸出的相位誤差,出現(xiàn)脈沖信號(hào)對(duì)外部電容進(jìn)行充電和放電,要較長(zhǎng)的時(shí)間以達(dá)到穩(wěn)定的電平輸出,以指示當(dāng)前鎖相環(huán)狀態(tài)是鎖定或失鎖,在電路設(shè)計(jì)方面不夠靈活并缺乏精確判斷鎖相環(huán)的鎖定狀態(tài),限制了其使用范圍。數(shù)字鎖定測(cè)試辦法具有準(zhǔn)確性高、可編程性且電路設(shè)計(jì)易于實(shí)現(xiàn)等優(yōu)勢(shì)而被廣泛使用。目前,電荷泵鎖相環(huán)的數(shù)字鎖定指示電路設(shè)計(jì)中,通常采用在鑒頻鑒相器pFD電路中測(cè)試經(jīng)過(guò)分頻后的參考時(shí)鐘輸入和同樣經(jīng)分頻后的本振反饋信號(hào)的相位誤差來(lái)實(shí)現(xiàn),當(dāng)相位誤差超過(guò)某個(gè)鎖定測(cè)試窗口時(shí),鎖相環(huán)電路就上報(bào)失鎖指示信號(hào)。本文解析了電荷泵鎖相環(huán)電路鎖定測(cè)試的基本原理,通過(guò)分解影響鎖相環(huán)數(shù)字鎖定電路的關(guān)鍵因子,推導(dǎo)出相位誤差的計(jì)算公式。并以CDCE72010為例子,通過(guò)試驗(yàn)驗(yàn)證了不合理的電路設(shè)計(jì)或外圍電路參數(shù)是要怎么樣影響電荷泵鎖相環(huán)芯片數(shù)字鎖定指示的準(zhǔn)確性。


2、電荷泵鎖相環(huán)電路的數(shù)字鎖定測(cè)試原理


相位誤差是數(shù)字鎖定測(cè)試原理的最關(guān)鍵參數(shù),下面分解了電荷泵鎖相環(huán)電路中相位誤差的來(lái)源,以及數(shù)字鎖定測(cè)試電路是要怎么樣基于相位誤差實(shí)現(xiàn)的。


2.1pFD、電荷泵電流和相位誤差

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充電溫度:0~45℃
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-40℃ 0.5放電容量保持率≥70%

典型的電荷泵鎖相環(huán)電路(如TI的CDCE72010)的pFD工作原理如圖1所示。當(dāng)送達(dá)pFD的參考


時(shí)鐘輸入超前本振時(shí)鐘輸入時(shí),pFD1就輸入一個(gè)高脈沖寬度的信號(hào);反之,則在pFD2輸出一個(gè)高脈沖電平寬度,通過(guò)pFD1和pFD2的脈沖信號(hào)以控制電荷泵電流的灌入和流出,經(jīng)后級(jí)低通濾波器后,出現(xiàn)不同的壓控電壓以控制外部振蕩器的輸出,達(dá)到負(fù)反饋的穩(wěn)定。通常pFD電路是通過(guò)比較參考時(shí)鐘和本振時(shí)鐘上升沿之間的時(shí)延,該時(shí)延稱之為相位誤差。在電路處于鎖定狀態(tài)時(shí),該相位誤差也就是鎖相環(huán)的穩(wěn)態(tài)相差參數(shù)。


2.2數(shù)字鎖定測(cè)試原理


數(shù)字鎖定測(cè)試的基本原理就是比較相位誤差和預(yù)先設(shè)定的鎖定測(cè)試窗口TLock_Window,一旦相位誤差在繼續(xù)N個(gè)周期里均落在預(yù)先設(shè)定的測(cè)試窗口以內(nèi),數(shù)字測(cè)試電路就指示該鎖相環(huán)處于鎖定狀態(tài);而在鎖定狀態(tài)下,一旦相位誤差超出所設(shè)定的測(cè)試窗口,數(shù)字測(cè)試電路就指示該鎖相環(huán)處于失鎖狀態(tài)。


圖3是CDCE72010器件數(shù)字鎖定測(cè)試電路示意圖,當(dāng)CDCE72010處于鎖定狀態(tài)時(shí),鎖定指示信號(hào)pLL_LOCKOutput輸出為高電平。其中,N的取值可以是1、16、64或256,鎖定測(cè)試窗口可選范圍很寬,從1.5ns到28.6ns(常溫條件下),可以滿足絕大多數(shù)使用場(chǎng)合的需求。

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3、數(shù)字鎖定電路設(shè)計(jì)


由于數(shù)字鎖定測(cè)試電路是通過(guò)分解鎖相環(huán)的相位誤差是不是落在預(yù)設(shè)的鎖定測(cè)試窗口范圍進(jìn)行鎖定指示判斷,而鎖相環(huán)的使用場(chǎng)景復(fù)雜,實(shí)際使用中的電路設(shè)計(jì)差異性較大,相位誤差參數(shù)受鎖相環(huán)電路設(shè)計(jì)的影響較大,不恰當(dāng)?shù)碾娐吩O(shè)計(jì)和外圍器件選型可能出現(xiàn)較大的相位誤差并超出鎖相環(huán)芯片的最大鎖定測(cè)試窗口。因此,要依據(jù)特定鎖相環(huán)配置和外圍電路選擇適宜的測(cè)試窗口,或者依據(jù)測(cè)試窗口要求設(shè)計(jì)適宜的鎖相環(huán)環(huán)路參數(shù)和外圍電路。本節(jié)分解了影響鎖相環(huán)鎖按時(shí)相位誤差的關(guān)鍵參數(shù),重點(diǎn)探討了要怎么樣可靠地設(shè)計(jì)數(shù)字鎖定指示電路。


3.1電荷泵鎖相環(huán)電路鎖定狀態(tài)下的相位誤差分解


圖4是基于CDCE72010的電荷泵鎖相環(huán)電路漏電流模型,包括了無(wú)源濾波電路和本地壓控振蕩器VCO或VCXO。理想情況下鎖相環(huán)電路的相位誤差應(yīng)為0,但由于元器件的非理想特性,存在以下幾種漏電流:電荷泵漏電流I1、濾波電路的電容C1、C2和C3引入的漏電流I2和本地壓控振蕩器引入的漏電流I3,這些漏電流(I1+I2+I3)均將影響環(huán)路鎖定狀態(tài)下的相位誤差。


當(dāng)鎖相環(huán)處于鎖定狀態(tài)時(shí),設(shè)相位誤差為Δt,電荷泵輸出脈沖寬度為Δt幅度為Icp的電流,則在一個(gè)鑒相周期T內(nèi)在后級(jí)低通濾波電容上積累的電荷量為Q1=Δt?Icp。同時(shí),在一個(gè)鑒相周期內(nèi),鎖相環(huán)電路的漏電流泄漏的電荷為Q2=T?(I1+I2+I3)。鎖定狀態(tài)下的壓控電壓保持穩(wěn)定,則經(jīng)電荷泵補(bǔ)充的電荷Q1應(yīng)等于漏電流泄漏掉的電荷Q2,即:


其中,為鎖相環(huán)電路的鑒相頻率。


圖4CDCE72010電路中影響相位誤差的漏電流模型


在圖4所示的漏電流模型中,I1是鎖相環(huán)芯片引入了,CDCE72010的電荷泵漏電流指標(biāo)是小于100nA,目前一般陶瓷電容的漏電流I2也遠(yuǎn)小于100nA,而壓控振蕩器的漏電流I3則可以等效為流過(guò)壓控輸入端輸入阻抗的電流,不同規(guī)格的振蕩器,該指標(biāo)差異較大,通常是達(dá)到uA級(jí)別。因此,壓控振蕩器的等效輸入阻抗參數(shù)是影響鎖相環(huán)鎖定下相位誤差的關(guān)鍵來(lái)源。


在采用CDCE72010的鎖相環(huán)電路中,通常采用電源電壓為3.3V的壓控振蕩器VCO/VCXO,其鎖按時(shí)的壓控電壓Vctrl一般穩(wěn)定在1.65V附近。依據(jù)式(1),若忽略I1和I2漏電流,則在鎖定狀態(tài)下由VCO/VCXO輸入阻抗引入的相位誤差為:


依據(jù)式子(2)可以看出,為了減小鎖按時(shí)的相位誤差,可以盡可能地提高鎖相環(huán)的鑒相頻率fpFD、電荷泵電流Icp、以及壓控振蕩器的輸入阻抗Ri。


3.2數(shù)字鎖定測(cè)試電路設(shè)計(jì)和試驗(yàn)探測(cè)


在數(shù)字鎖定測(cè)試電路設(shè)計(jì)中,非得嚴(yán)格確保鎖按時(shí)的相位誤差Δt小于鎖定測(cè)試窗口TLock_Window,


否則數(shù)字鎖定指示信號(hào)就將出現(xiàn)誤判現(xiàn)象。依據(jù)前面分解得知,在CDCE72010鎖相環(huán)電路中,外部VCXO的輸入阻抗是數(shù)字鎖定電路設(shè)計(jì)的一個(gè)關(guān)鍵參數(shù),依據(jù)式(2),可以得到壓控振蕩器輸入阻抗的指標(biāo)要求:


假設(shè)在使用中CDCE72010中鑒相頻率為1MHz,電荷泵電流為1,預(yù)設(shè)的鎖定測(cè)試窗口為5.8ns,本地VCXO的壓控電壓為1.65V,則可以得到VCXO的輸入阻抗要求:


在鎖相環(huán)電路設(shè)計(jì)中,鑒相頻率和電荷泵電流與環(huán)路直流增益成正比,跟鎖相環(huán)的環(huán)路帶寬和相位裕量密切相關(guān),為了得到較小的環(huán)路帶寬,通常要降低鑒相頻率或電荷泵電流。進(jìn)一步分解式(2),相位誤差跟鑒相頻率和電荷泵電流成反比,因此在低環(huán)路帶寬電路的設(shè)計(jì)中,非得特別留意壓控振蕩器的輸入阻抗(或漏電流指標(biāo))和鎖定測(cè)試窗口的設(shè)計(jì),嚴(yán)格滿足式(3)的設(shè)計(jì)要求。


可以通過(guò)試驗(yàn)來(lái)檢查式(3)的正確性。在CDCE72010的評(píng)估板上,改變VCXO壓控端的等效輸入阻抗,通過(guò)觀察CDCE72010鎖定指示輸出管腳或鎖定指示寄存器的鎖定狀態(tài),分解該鎖定測(cè)試電路是不是可靠地工作,詳盡試驗(yàn)設(shè)置如下:


參考時(shí)鐘為25MHz,VCXO頻率為125MHz,鑒相頻率為1MHz,pFD的測(cè)試窗口為5.8ns,控制電壓為1.65V,試驗(yàn)結(jié)果如表1所示,其中Ri_min為計(jì)算出的VCXO輸入阻抗的最小值,√表示鎖相環(huán)指示鎖定,×表示鎖相環(huán)數(shù)字鎖定指示為失鎖狀態(tài)。其中,在試驗(yàn)過(guò)程中,由示波器監(jiān)控CDCE72010的參考時(shí)鐘和本振時(shí)鐘一直處于鎖定狀態(tài)。


表1不同VCXO輸入阻抗值對(duì)CDCE72010數(shù)字鎖定指示的影響


從表1中可以看出VCXO的輸入阻抗對(duì)鎖相環(huán)的數(shù)字鎖定有很大的影響,例如當(dāng)電荷泵電流為1.2mA時(shí),依據(jù)式(3)可以得到VCXO的最小輸入阻抗為237Kohms,那么有關(guān)低于這個(gè)值的輸入阻抗,數(shù)字鎖相指示無(wú)法正確指示鎖定,試驗(yàn)探測(cè)的結(jié)果與理論分解是吻合的。


4、總結(jié)


本文在電荷泵鎖相環(huán)數(shù)字鎖定測(cè)試工作原理的基礎(chǔ)上,分解了影響鎖按時(shí)相位誤差的環(huán)路參數(shù)和外圍元器件的關(guān)鍵參數(shù),包括電荷泵電流、鑒相頻率和漏電流等。同時(shí)依據(jù)對(duì)整個(gè)環(huán)路漏電流路徑的分解,重點(diǎn)分解了外部壓控振蕩器的等效輸入阻抗對(duì)鎖相環(huán)鎖定指示準(zhǔn)確性的影響。


以CDCE72010數(shù)字鎖定設(shè)計(jì)為例,為了提高數(shù)字鎖定測(cè)試電路鎖定狀態(tài)指示的準(zhǔn)確性,在低環(huán)路帶寬的鎖相環(huán)電路設(shè)計(jì)中,非得選擇恰當(dāng)?shù)耐獠繅嚎卣袷幤鞯妮斎胱杩箙?shù)指標(biāo)。


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